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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 42号

逆格子マッピングによる成長初期のInGaAs/GaAs(001)界面のミスフィット転位の解析

http://hdl.handle.net/10458/4717
http://hdl.handle.net/10458/4717
7333c397-de31-4c34-a4f7-5e446229eaa2
名前 / ファイル ライセンス アクション
engineering85-88.pdf engineering85-88.pdf (632.0 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2013-12-26
タイトル
タイトル 逆格子マッピングによる成長初期のInGaAs/GaAs(001)界面のミスフィット転位の解析
言語 ja
タイトル
タイトル Analysis of Misfit Dislocations at the Interface of (001) InGaAs/GaAs by Reciprocal Space Mapping
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 GaAs, lattice mismatched solar sell, reciprocal space mapping, misfit dislocation
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル ギャク コウシ マッピング ニヨル セイチョウ ショキ ノ InGaAs/GaAs(001) カイメン ノ ミスフィット テンイ ノ カイセキ
言語 ja-Kana
著者 松下, 卓哉

× 松下, 卓哉

WEKO 14535

ja 松下, 卓哉

ja-Kana マツシタ, タクヤ

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高比良, 潤

× 高比良, 潤

WEKO 25564

ja 高比良, 潤

ja-Kana タカヒラ, ジン

en Takahira, Jun

Search repository
境, 健太郎

× 境, 健太郎

WEKO 12634
e-Rad_Researcher 20336291

ja 境, 健太郎
宮崎大学

ja-Kana サカイ, ケンタロウ

en Sakai, Kentaro
University of Miyazaki

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前田, 幸治

× 前田, 幸治

WEKO 12047
e-Rad_Researcher 50219268

ja 前田, 幸治
宮崎大学

ja-Kana マエダ, コウジ

en Maeda, Koji
University of Miyazaki

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鈴木, 秀俊

× 鈴木, 秀俊

WEKO 14196
e-Rad_Researcher 00387854

ja 鈴木, 秀俊
宮崎大学

ja-Kana スズキ, ヒデトシ

en Suzuki, Hidetoshi
University of Miyazaki

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Matsushita, Takuya

× Matsushita, Takuya

WEKO 14540

en Matsushita, Takuya

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高比良, 潤

× 高比良, 潤

WEKO 25564

ja 高比良, 潤

ja-Kana タカヒラ, ジン

en Takahira, Jun

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Distribution of misfit dislocations (MDs) formed at the interface of InGaAs/GaAs(001) structure with different InGaAs thickness was investigated by X-ray reciprocal space mapping (RSM) techniques. Satellite peaks (Ps) were observed at the side of InGaAs 004 Bragg peak in RSM. Ps peaks were originated from scattering by lattices deformed by MDs. Peak position and full width at half maximum of Ps represented the mean tilt angle of crystal lattices caused by MDs and variation of them. These results were agreement with the results of X-ray topography. Based on these results, the same analysis were performed on the films with different In composition.
言語 en
bibliographic_information ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 42, p. 85-88, 発行日 2013-08-30
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
item_10002_source_id_11
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-30 02:54:16.300789
Ver.1 2023-05-15 10:41:03.587120
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