WEKO3
アイテム
高分解能X線回折法によるGaAs(001)上のフッ化物混晶膜の結晶評価
http://hdl.handle.net/10458/3588
http://hdl.handle.net/10458/3588bc0fabdd-98a0-487e-a6a0-a123c3e37a61
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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7engineering40_pp.35-38.pdf (476.4 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-03-08 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | 高分解能X線回折法によるGaAs(001)上のフッ化物混晶膜の結晶評価 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | X-ray reciprocal space mapping in MBE growth of CaSrF2 on GaAs(001) | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | HRXRD, Reciprocal Lattice Map, MBE, CaSrF2 Lattice constant | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||
| その他（別言語等）のタイトル | ||||||||||||||||||
| その他のタイトル | コウブンカイノウ Xセン カイセツホウ ニヨル GaAs (001) ジョウ ノ フッカブツ コンショウマク ノ ケッショウ ヒョウカ | |||||||||||||||||
| 言語 | ja-Kana | |||||||||||||||||
| 著者 |
筒井, 康吉
× 筒井, 康吉× 正木, 宏和× 前田, 幸治
WEKO
12047
× 境, 健太郎
WEKO
12634
× 尾関, 雅志× Tsutsui, Yasuyoshi× 正木, 宏和 |
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| 抄録 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||
| 内容記述 | The strain of the Cal-xSrxF2 layers on GaAs grown by molecular beam epitaxy (MBE) has been investigated. The layers are analyzed using the high resolution X-ray diffraction (HRXRD). The in-plane and out-of-plane lattice parameters using reciprocal lattice mapping for the symmetric (004) and asymmetric (224) reciprocal lattice points. The reciprocal lattice points was broaden in all Ca1-xSrxF2 films despite the lattice matched film to the substrate. The lattice spacings of the film increased as the SrF_2 cell temperature increased. The correlation between the difference of the lattice constant in films and that in substrate and the degree of relaxation of the lattice in the films are found. | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 書誌情報 |
ja : 宮崎大学工学部紀要 en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki 巻 40, p. 35-38, 発行日 2011-07-30 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 宮崎大学工学部 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | Faculty of Engineering, University of Miyazaki | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 05404924 | |||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA00732558 | |||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||
