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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 41号

高分解能X線回折法によるGaAs基板上のフッ化物薄膜結晶の評価

http://hdl.handle.net/10458/4112
http://hdl.handle.net/10458/4112
64b851d9-cb67-4dc7-9437-3a2e5219b2d2
名前 / ファイル ライセンス アクション
engineering41_155-159.pdf engineering41_155-159.pdf (1.0 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2012-10-31
タイトル
タイトル 高分解能X線回折法によるGaAs基板上のフッ化物薄膜結晶の評価
言語 ja
タイトル
タイトル Structure Analysis of Fluoride Crystal on GaAs by High-Resolution X-ray Diffractometry
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 HRXRD, Reciprocal lattice map, MBE, Epitaxial grown
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル コウブンカイノウ Xセン カイセキホウ ニヨル GaAs キバンジョウ ノ フッカブツ ハクマク ケッショウ ノ ヒョウカ
言語 ja-Kana
著者 正木, 宏和

× 正木, 宏和

WEKO 14444

ja 正木, 宏和

ja-Kana マサキ, ヒロカズ

en Masaki, Hirokazu

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前田, 幸治

× 前田, 幸治

WEKO 12047
e-Rad_Researcher 50219268

ja 前田, 幸治
宮崎大学

ja-Kana マエダ, コウジ

en Maeda, Koji
University of Miyazaki

Search repository
境, 貴洋

× 境, 貴洋

WEKO 12044

ja 境, 貴洋

ja-Kana サカイ, タカヒロ

Search repository
尾関, 雅志

× 尾関, 雅志

WEKO 11920

ja 尾関, 雅志

ja-Kana オゼキ, マサシ

en Ozeki, Masashi

Search repository
鈴木, 秀俊

× 鈴木, 秀俊

WEKO 14196
e-Rad_Researcher 00387854

ja 鈴木, 秀俊
宮崎大学

ja-Kana スズキ, ヒデトシ

en Suzuki, Hidetoshi
University of Miyazaki

Search repository
正木, 宏和

× 正木, 宏和

WEKO 14444

ja 正木, 宏和

ja-Kana マサキ, ヒロカズ

en Masaki, Hirokazu

Search repository
境, 健太郎

× 境, 健太郎

WEKO 12634
e-Rad_Researcher 20336291

ja 境, 健太郎
宮崎大学

ja-Kana サカイ, ケンタロウ

en Sakai, Kentaro
University of Miyazaki

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The crystal structure of Ca_1-xSr_xF_2 films (x =0.3~0.7) grown on GaAs(001) by molecular beam epitaxy was studied. The composition of Ca_1-xSr_xF_2 film was changed by SrF_2 cells temperature. The film thickness were 100 to 300 nm. The lattice constants of <001> and <110> direction of the films were determined by rocking curve measurement, the (004) and (224) reciprocal lattice maps by the high resolution X-ray diffractometry. The lattice constants of both directions increased as the SrF_2 composition increasing. The lattice constant of the films which was expected for the 0.1% lattice mismatched could be measured.
言語 en
bibliographic_information ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 41, p. 155-159, 発行日 2012-07-30
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
item_10002_source_id_11
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-30 05:02:48.453158
Ver.1 2023-05-15 10:38:37.566890
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