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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 32号

PLD法による結晶性チタン酸バリウム薄膜の作製

http://hdl.handle.net/10458/251
http://hdl.handle.net/10458/251
fcedacb5-e0ce-4d54-badc-4b4a20b90268
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00002425502.pdf KJ00002425502.pdf (719.0 kB)
アイテムタイプ 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2007-06-28
タイトル
タイトル PLD法による結晶性チタン酸バリウム薄膜の作製
言語 ja
タイトル
タイトル Fabrication of Crystalline BaTiO_3 thin films by Pulsed Laser Deposition(PLD) method
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Crystalline, BaTiO3 thin film, PLD, Excimer laser, low-temperature
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル PLDホウ ニ ヨル ケッショウセイ チタンサン バリウム ハクマク ノ サクセイ
言語 ja-Kana
著者 若松, 功二

× 若松, 功二

WEKO 12479

ja 若松, 功二

ja-Kana ワカマツ, コウジ

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横谷, 篤至

× 横谷, 篤至

WEKO 12038
e-Rad_Researcher 00183989

ja 横谷, 篤至
宮崎大学

ja-Kana ヨコタニ, アツシ

en Yokotani, Atsushi
University of Miyazaki

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黒澤, 宏

× 黒澤, 宏

WEKO 12037

黒澤, 宏

ja-Kana クロサワ, コウ

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Wakamatsu, Kouzi

× Wakamatsu, Kouzi

WEKO 12482

en Wakamatsu, Kouzi

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Kurosawa, Kou

× Kurosawa, Kou

WEKO 12041

en Kurosawa, Kou

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Abstract
BaTiO3 thin films which are applicable as a capacitor material of semiconductors, such as
high speed LSI, was made to deposit on Si(111) substrate by the PLD method. BaTiO3 target
irradiated 18000 shots by the KrF excimer laser. The substrate temperature was varied from
20℃ to 550℃ under a vacuum of 2.0xl0(-5乗) Torr. The laser was focused with a lens of 80 mm
focal length was used as a driving source of the laser ablation. The fluence of the laser on the
target was approximately 5.0 J/cm(2乗). Moreover, the another ultraviolet ray irradiated the
substrate by the fluence of 100 mJ/cm(2乗) simultaneousiy. As a result, the crystallized thin film
was successful deposited despite 250℃.This temperature is much lower than that in the
conventional methods (665℃ without the irradiation of substrate) . The crystallinity of a thin
film was improved as rising the substrate temperature. The SEM observation showed that the
surface of the oriented films has regular sharped structure like the sguama. It is thought that
if this effect is applied to the manufacturing of LSI, in industry, it will reduce the cost of
manufacturing because of the low-temperature process.
言語 en
書誌情報 ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 32, p. 115-121, 発行日 2003-07
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-29 23:33:12.144464
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