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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 35号

窒素イオン注入Si及びSi酸化膜端に生じる格子欠陥の観察と評価

http://hdl.handle.net/10458/410
http://hdl.handle.net/10458/410
83cc1985-f702-4cac-88b7-e60fb6213b52
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00004439485.pdf KJ00004439485.pdf (1.1 MB)
アイテムタイプ 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2007-06-28
タイトル
タイトル 窒素イオン注入Si及びSi酸化膜端に生じる格子欠陥の観察と評価
言語 ja
タイトル
タイトル TEM Observation of Lattice Defects in Si Generated by the Nitrogen Ion Implantation and by the Oxide Film
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Nitrogen ion implantation, Silicon, Oxide film, TEM, Dislocations
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル チッソ イオン チュウニュウ Si オヨビ Si サンカマクタン ニ ショウジル コウシ ケッカン ノ カンサツ ト ヒョウカ
言語 ja-Kana
著者 木原, 幸太郎

× 木原, 幸太郎

WEKO 12279

ja 木原, 幸太郎

ja-Kana キハラ, コウタロウ

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黒木, 正子

× 黒木, 正子

WEKO 17794

ja 黒木, 正子


ja-Kana クロキ, マサコ

en Kuroki, Masako

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福森, 太一郎

× 福森, 太一郎

WEKO 12260

ja 福森, 太一郎

ja-Kana フクモリ, タイチロウ

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明石, 義人

× 明石, 義人

WEKO 7725

ja 明石, 義人

ja-Kana アカシ, ヨシト

en Akashi, Yoshito

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二神, 光次

× 二神, 光次

WEKO 12263

ja 二神, 光次

ja-Kana フタカミ, コウジ

en Futagami, Koji

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Kihara, Koutarou

× Kihara, Koutarou

WEKO 12284

en Kihara, Koutarou

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黒木, 正子

× 黒木, 正子

WEKO 17794

ja 黒木, 正子


ja-Kana クロキ, マサコ

en Kuroki, Masako

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Fukumori, Taichiro

× Fukumori, Taichiro

WEKO 12265

en Fukumori, Taichiro

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Abstract
The damage generated by nitrogen ion implantation into silicon wafer was recovered by
heat treatment, and research of seeing the recovery process was done. Lattice defects at the
edges of the nitrogen ion implanted region and of oxide film were observed by
TEM(Transmission Electron Microscope) after the heat-treatment. At the edge of the
implanted region segregations, may be nitrides, were observed, while at the edge of the oxide
film dislocations concentrated along a line were observed. The number of dislocations
observed at the film edge were decreased with annealing temperature, and only a few
dislocations were observed in the specimen annealed at 550℃.
言語 en
書誌情報 ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 35, p. 37-40, 発行日 2006-08-30
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-29 23:31:38.614820
Ver.1 2023-05-15 11:45:55.537562
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