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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 44号

InGaAs/GaAs(001)界面における成長初期過程の転位の X 線回折およびトポグラフ法を用いた観察

http://hdl.handle.net/10458/5566
http://hdl.handle.net/10458/5566
89494ea5-7548-4b22-a041-06eabcc765e4
名前 / ファイル ライセンス アクション
engineering44_71-75.pdf 本文 (1.1 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-06-21
タイトル
タイトル InGaAs/GaAs(001)界面における成長初期過程の転位の X 線回折およびトポグラフ法を用いた観察
言語 ja
タイトル
タイトル Misfit Dislocations of Initial Growth Stage in InGaAs/GaAs(001)Interface Observed Using X-ray Diffraction and Topography
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 GaAs, Lattice mismatched solar cell, Reciprocal space mapping, Misfit dislocation, X-ray topography
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル InGaAs/GaAs(001) カイメン ニ オケル セイチョウ ショキ カテイ ノ テンイ ノ Xセン カイセツ オヨビ トポグラフホウ オ モチイタ カンサツ
著者 高比良, 潤

× 高比良, 潤

WEKO 25564

ja 高比良, 潤

ja-Kana タカヒラ, ジン

en Takahira, Jun

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小寺, 大介

× 小寺, 大介

WEKO 25565

ja 小寺, 大介

ja-Kana コデラ, ダイスケ

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境, 健太郎

× 境, 健太郎

WEKO 12634
e-Rad_Researcher 20336291

ja 境, 健太郎
宮崎大学

ja-Kana サカイ, ケンタロウ

en Sakai, Kentaro
University of Miyazaki

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前田, 幸治

× 前田, 幸治

WEKO 12047
e-Rad_Researcher 50219268

ja 前田, 幸治
宮崎大学

ja-Kana マエダ, コウジ

en Maeda, Koji
University of Miyazaki

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大下, 祥雄

× 大下, 祥雄

WEKO 25568

ja 大下, 祥雄

ja-Kana オオシタ, ヨシト

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鈴木, 秀俊

× 鈴木, 秀俊

WEKO 14196
e-Rad_Researcher 00387854

ja 鈴木, 秀俊
宮崎大学

ja-Kana スズキ, ヒデトシ

en Suzuki, Hidetoshi
University of Miyazaki

Search repository
高比良, 潤

× 高比良, 潤

WEKO 25564

ja 高比良, 潤

ja-Kana タカヒラ, ジン

en Takahira, Jun

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Kodera, Daisuke

× Kodera, Daisuke

WEKO 25571

en Kodera, Daisuke

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Ohshita, Yoshio

× Ohshita, Yoshio

WEKO 25574

en Ohshita, Yoshio

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Reciprocal space mapping (RSM) and X-ray topography (XRT) were performed to understand the anisotropies of misfit dislocations (MDs) formed in the initial growth stage of InGaAs on GaAs(001). The MDs densities increased with increasing both In composition and the film thickness, and it highly depended on the film thickness rather than the In composition. Anisotropies in MDs distribution observed by XRT were good agreement with those observed by RSM. In addition, the 15% of Burgers vectors for all MDs could be identified by XRT.
言語 en
bibliographic_information ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 44, p. 71-75, 発行日 2015-07-31
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
item_10002_source_id_11
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-30 04:07:35.394944
Ver.1 2023-05-15 10:41:41.038885
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