WEKO3
アイテム
圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価
http://hdl.handle.net/10458/5066
http://hdl.handle.net/10458/5066979f9c41-5e8c-4008-af76-d08a5417c1ec
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | 圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Investigation of Semiconductor Thin Films by Means of a Piezoelectric Photothermal Spectroscopy | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| キーワード | piezoelectric photothermal spectroscopy, nonradiative electron transitions, semiconductor thin layers | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||
| 著者 |
碇, 哲雄
× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× 福山, 敦彦
WEKO
7289
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| 書誌情報 |
光学 en : Japanese Journal of Optics 巻 34, 号 2, p. 82-86, 発行日 2005-02-10 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 日本光学会 | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | The Optical Society of Japan | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 応用物理学会分科会日本光学会 | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 03896625 | |||||||||||||||||
| 関連サイト | ||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||||||
| 関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621 | |||||||||||||||||
| 関連名称 | http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621 | |||||||||||||||||
