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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 学術雑誌掲載論文 (工学部)

圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価

http://hdl.handle.net/10458/5066
http://hdl.handle.net/10458/5066
979f9c41-5e8c-4008-af76-d08a5417c1ec
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2020-06-21
タイトル
タイトル 圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価
言語 ja
タイトル
タイトル Investigation of Semiconductor Thin Films by Means of a Piezoelectric Photothermal Spectroscopy
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
キーワード piezoelectric photothermal spectroscopy, nonradiative electron transitions, semiconductor thin layers
資源タイプ
資源タイプ journal article
アクセス権
著者 碇, 哲雄

× 碇, 哲雄

WEKO 7290
e-Rad_Researcher 70113214

ja 碇, 哲雄

ja-Kana イカリ, テツオ

en Ikari, Tetsuo


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福山, 敦彦

× 福山, 敦彦

WEKO 7289
e-Rad_Researcher 10264368

ja 福山, 敦彦

ja-Kana フクヤマ, アツヒコ

en Fukuyama, Atsuhiko


Search repository
書誌情報 光学
en : Japanese Journal of Optics

巻 34, 号 2, p. 82-86, 発行日 2005-02-10
出版者
出版者 日本光学会
出版者
出版者 The Optical Society of Japan
出版者
出版者 応用物理学会分科会日本光学会
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 03896625
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621
関連名称 http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621
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Ver.1 2023-05-15 10:59:27.303011
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