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圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価
http://hdl.handle.net/10458/5066
http://hdl.handle.net/10458/5066979f9c41-5e8c-4008-af76-d08a5417c1ec
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 圧電素子光熱分光法による半導体薄膜の評価 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Investigation of Semiconductor Thin Films by Means of a Piezoelectric Photothermal Spectroscopy | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| キーワード | piezoelectric photothermal spectroscopy, nonradiative electron transitions, semiconductor thin layers | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| 著者 |
碇, 哲雄
× 碇, 哲雄× 福山, 敦彦 |
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| 書誌情報 |
光学 en : Japanese Journal of Optics 巻 34, 号 2, p. 82-86, 発行日 2005-02-10 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 日本光学会 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | The Optical Society of Japan | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 応用物理学会分科会日本光学会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 03896625 | |||||
| 関連サイト | ||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621 | |||||
| 関連名称 | http://ci.nii.ac.jp/naid/10014359621 | |||||
