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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 38号

ラマン分光法及びX線回折法を用いた太陽電池用シリコン薄膜の結晶性評価

http://hdl.handle.net/10458/2386
http://hdl.handle.net/10458/2386
98825eeb-00b9-47fe-b9b4-054b1e013152
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00005629819.pdf KJ00005629819.pdf (2.3 MB)
アイテムタイプ 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2009-10-29
タイトル
タイトル ラマン分光法及びX線回折法を用いた太陽電池用シリコン薄膜の結晶性評価
言語 ja
タイトル
タイトル Crystallinity of uc-Si films for solar cell application studied by Raman spectroscopy and X-ray diffraction methods
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 uc-Si, Thin film solar cells, Raman, XRD, Crystallinity, Grain size
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル ラマン ブンコウホウ オヨビ エックスセンカイセツホウ オ モチイタ タイヨウデンチ ヨウ シリコンハクマク ノ ケッショウセイ ヒョウカ
著者 奥田, 浩章

× 奥田, 浩章

WEKO 15377

ja 奥田, 浩章

ja-Kana オクダ, ヒロアキ

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片地, 秀蔵

× 片地, 秀蔵

WEKO 15378

ja 片地, 秀蔵

ja-Kana カタチ, シュウゾウ

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前田, 幸治

× 前田, 幸治

WEKO 12047
e-Rad 50219268

en Maeda, Koji
Maeda, Kouji

ja 前田, 幸治

ja-Kana マエダ, コウジ

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西岡, 賢祐

× 西岡, 賢祐

WEKO 13733
e-Rad 00377441

ja 西岡, 賢祐

ja-Kana ニシオカ, ケンスケ

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Okuda, Hiroaki

× Okuda, Hiroaki

WEKO 15381

en Okuda, Hiroaki

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Katachi, Shuzo

× Katachi, Shuzo

WEKO 15382

en Katachi, Shuzo

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Nishioka, Kensuke

× Nishioka, Kensuke

WEKO 13738

en Nishioka, Kensuke

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Structural analyses on microcrystalline silicon (μc-Si) films for thin-film silicon solar cell applications prepared by plasma CVD method were studied. Raman spectroscopy and X-ray diffraction method (XRD) were used. The crystallinities of μc-Si films were decided by the intensity ratio in the separated peak of the Raman spectra. Grain size of <111> direction obtained by XRD increased as the crystallinity of the film increased. The crystalline face of μc-Si oriented <111> direction to the substrate. The distribution of c-Si in the film was evaluated Raman spectrum excited from the three kind of wavelength lasers which have the different penetration depth. We could show nondestructively that the crystallinity of film is increased as closing upon the front surface.
言語 en
書誌情報 ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 38, p. 103-107, 発行日 2009-09-30
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-30 02:57:57.535459
Ver.1 2023-05-15 11:02:52.266500
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