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  1. 工学部
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  2. 紀要掲載論文 (工学部)
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  3. 宮崎大學工學部紀要
  1. 工学部
  2. 紀要掲載論文 (工学部)
  3. 宮崎大學工學部紀要
  4. 42号

MOSトランジスタのバックゲート端子を用いた高精度サンプル・ホールド回路の検討

http://hdl.handle.net/10458/4724
http://hdl.handle.net/10458/4724
b85eead3-e8ad-4860-9bc7-6c595d8fb1fb
名前 / ファイル ライセンス アクション
engineering127-134.pdf engineering127-134.pdf (1.9 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2013-12-26
タイトル
タイトル MOSトランジスタのバックゲート端子を用いた高精度サンプル・ホールド回路の検討
言語 ja
タイトル
タイトル Consideration of High Performance Sample-and-Hold Circuit Using Backgate Terminal of MOS Transistor
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
その他(別言語等)のタイトル
その他のタイトル MOS トランジスタ ノ バックゲート タンシ オ モチイタ コウセイド サンプル ホールド カイロ ノ ケントウ
著者 宮川, 昌士

× 宮川, 昌士

WEKO 15009

ja 宮川, 昌士

ja-Kana ミヤガワ, マサシ

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酒井, 駿介

× 酒井, 駿介

WEKO 15010

ja 酒井, 駿介

ja-Kana サカイ, シュンスケ

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田村, 宏樹

× 田村, 宏樹

WEKO 7150
e-Rad_Researcher 90334713

ja 田村, 宏樹

ja-Kana タムラ, ヒロキ

en Tamura, Hiroki


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外山, 貴子

× 外山, 貴子

WEKO 12078

ja 外山, 貴子

ja-Kana トヤマ, タカコ

en Toyama, Takako

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淡野, 公一

× 淡野, 公一

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e-Rad_Researcher 50260740

ja 淡野, 公一

ja-Kana タンノ, コウイチ

en Tanno, Koichi


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Miyagawa, Masashi

× Miyagawa, Masashi

WEKO 15014

en Miyagawa, Masashi

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Sakai, Syunsuke

× Sakai, Syunsuke

WEKO 15015

en Sakai, Syunsuke

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 In this paper, we propose new sample-and-hold circuits, which are low ON-resistance by using backgate terminal of MOSFET. In the proposed circuits, the backgate terminal is used as a control terminal to change the threshold voltage (V_T) of MOSFET. In detail, the backgate is applied to a pulse at the moment of turning on. Using this technique, we can achieve the low ON-resistance. From the evaluation using HSPICE simulation with the 0.35μm CMOS processes parameters, we could confirm that value of ON-resistance decrease about 13% compared with conventional one.
言語 en
書誌情報 ja : 宮崎大学工学部紀要
en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki

巻 42, p. 127-134, 発行日 2013-08-30
出版者
出版者 宮崎大学工学部
言語 ja
出版者
出版者 Faculty of Engineering, University of Miyazaki
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 05404924
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00732558
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.2 2023-07-30 00:08:40.720932
Ver.1 2023-05-15 11:18:44.274307
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Cite as

宮川, 昌士, 酒井, 駿介, 田村, 宏樹, 外山, 貴子, 淡野, 公一, Miyagawa, Masashi, Sakai, Syunsuke, 2013, MOSトランジスタのバックゲート端子を用いた高精度サンプル・ホールド回路の検討: 宮崎大学工学部, 127–134 p.

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