WEKO3
アイテム
Nonradiative Investigations of Photoquenching and Recovery of EL2 Defect Levels in Si-GaAs
http://hdl.handle.net/10458/5302
http://hdl.handle.net/10458/5302df20841a-bc30-41d7-8d62-cd8f76d76550
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Nonradiative Investigations of Photoquenching and Recovery of EL2 Defect Levels in Si-GaAs | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| キーワード | EL2, Enhancement of the PA Signal, GaAs, Photoacoustic Spectroscopy, Photoquenching | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||
| 著者 |
福山, 敦彦
× 福山, 敦彦
WEKO
7289
× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× 明石, 義人× 二神, 光次× Fukayama, Atsuhiko |
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| 書誌情報 |
Materials Science Forum 巻 196-201, 号 2, p. 1031-1036, 発行日 1995-11 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | Trans Tech Publications | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 02555476 | |||||||||||||||||
