WEKO3
アイテム
Annealing Behavior of Deep Trap Level in p-GaTe
http://hdl.handle.net/10458/5291
http://hdl.handle.net/10458/5291f049e4b1-7213-4272-946e-7aa3d362964e
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Annealing Behavior of Deep Trap Level in p-GaTe | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||
| 著者 |
重冨, 茂
× 重冨, 茂× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× 中島, 寛× 中島, 寛 |
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| 書誌情報 |
Japanese Journal of Applied Physics 巻 37, 号 6A, p. 3282-3283, 発行日 1998-06 |
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| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | Japan Society of Applied Physics | |||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | 応用物理学会 | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 00214922 | |||||||||||
