WEKO3
アイテム
Characterization of phosphorus in layer semiconductor GaSe
http://hdl.handle.net/10458/5288
http://hdl.handle.net/10458/528803415bd5-a8a0-460e-b263-4bcb5a1b4673
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Characterization of phosphorus in layer semiconductor GaSe | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| キーワード | Bulk semiconductor, Impurity level, GaSe | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||
| 著者 |
重冨, 茂
× 重冨, 茂× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× 中島, 寛× 中島, 寛 |
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| 書誌情報 |
Journal of Luminescence 巻 79, 号 2, p. 79–84-79–84, 発行日 1998-08-28 |
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| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | Elsevier Science | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 00222313 | |||||||||||
