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  1. 工学部
  2. 学術雑誌掲載論文 (工学部)

Optical characterizations of CuInSe _2 epitaxial layers grown by molecular beam epitaxy

http://hdl.handle.net/10458/5276
http://hdl.handle.net/10458/5276
dceef7fd-d542-4e58-8cd6-5afc4e181fd6
名前 / ファイル ライセンス アクション
ikr_5276.pdf ikr_5276.pdf (558.8 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2020-06-21
タイトル
タイトル Optical characterizations of CuInSe _2 epitaxial layers grown by molecular beam epitaxy
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
キーワード Band gap, Cancer, Copper, Epitaxy, III-V semiconductors
資源タイプ
資源タイプ journal article
著者 吉野, 賢二

× 吉野, 賢二

WEKO 12061
e-Rad 80284826

吉野, 賢二

ja-Kana ヨシノ, ケンジ

en Yoshino, Kenji

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横山, 宏有

× 横山, 宏有

WEKO 12635
e-Rad 50315355

横山, 宏有

ja-Kana ヨコヤマ, ヒロスミ

en Yokoyama, Hirosumi

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前田, 幸治

× 前田, 幸治

WEKO 12047
e-Rad 50219268

en Maeda, Koji
Maeda, Kouji

ja 前田, 幸治

ja-Kana マエダ, コウジ


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碇, 哲雄

× 碇, 哲雄

WEKO 7290
e-Rad 70113214

碇, 哲雄

ja-Kana イカリ, テツオ

en Ikari, Tetsuo

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福山, 敦彦

× 福山, 敦彦

WEKO 7289
e-Rad 10264368

福山, 敦彦

ja-Kana フクヤマ, アツヒコ

en Fukuyama, Atsuhiko

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山田, 昭政

× 山田, 昭政

WEKO 23496

山田, 昭政

ja-Kana ヤマダ, アキマサ

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仁木, 栄

× 仁木, 栄

WEKO 23497

仁木, 栄

ja-Kana ニキ, シゲル

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Fons, Paul. J.

× Fons, Paul. J.

WEKO 23503

en Fons, Paul. J.

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Yamada, Akimasa

× Yamada, Akimasa

WEKO 23504

en Yamada, Akimasa

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Niki, Shigeru

× Niki, Shigeru

WEKO 23505

en Niki, Shigeru

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 CuInSe_2 (CIS) films with Cu/In ratios of γ=0.82–1.79 have been grown on a GaAs (001) substrate by molecular beam epitaxy.Piezoelectric photoacoustic (PPA) measurements were carried out from liquid helium to room temperature to investigate nonradiative carrier recombination processes in comparison with photoluminescence (PL) measurements which directly detected radiative carrier recombination processes. Three PPA signal peaks which corresponded to band gapenergies of the CIS(AB and C bands) and the GaAs substrate, were clearly obtained between liquid helium and room temperatures. A free-exciton emission line was observed up to 200 K in the PL spectra. Two additional peaks on intrinsic defects which are Cu vacancy (V_<Cu> ) and interstitial In (In_i) were observed in the In-rich CIS samples. The PPA measurements were useful in investigating the defect levels and the band gapenergy in the CIS/GaAs thin films.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 The following article appeared in Journal of Applied Physics. 10/15/1999, Vol. 86 Issue 8, p4354 and may be found at http://dx.doi.org/10.1063/1.371369
書誌情報 Journal of Applied Physics

巻 86, 号 8, p. 4354-4359, 発行日 1999-10-15
出版者
出版者 American Institute of Physics
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 00218979
権利
権利情報 Copyright 1999 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
著者版フラグ
出版タイプ VoR
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Ver.2 2023-07-29 09:28:27.893788
Ver.1 2023-05-15 10:56:32.631320
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Cite as

Yoshino, Kenji, Yokoyama, Hirosumi, 前田, 幸治, Ikari, Tetsuo, Fukuyama, Atsuhiko, 山田, 昭政, 仁木, 栄, Fons, Paul. J., Yamada, Akimasa, Niki, Shigeru, 1999, Optical characterizations of CuInSe _2 epitaxial layers grown by molecular beam epitaxy: American Institute of Physics, 4354–4359 p.

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