WEKO3
アイテム
Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal
http://hdl.handle.net/10458/5201
http://hdl.handle.net/10458/520185914b83-0e70-45b4-abe7-38231ff53ec5
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| キーワード | Deep level photothermal spectroscopy, Deep level transient spectroscopy, Nickel, Photoionization, Piezoelectricity | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||
| 著者 |
佐藤, 庄一郎
× 佐藤, 庄一郎× 福山, 敦彦
WEKO
7289
× 田中, 秀司× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× Sato, Syoichiro× Memon, Aftab A.× Tanaka, Shuji |
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| 書誌情報 |
Review of Scientific Instruments 巻 74, 号 1, p. 340-342, 発行日 2003-01 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | American Institute of Physics | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 00346748 | |||||||||||||||||
