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Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements
http://hdl.handle.net/10458/5191
http://hdl.handle.net/10458/5191c3473f0f-b5c8-418f-8245-8413caf4b7dc
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-06-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| 著者 |
多田, 真樹
× 多田, 真樹× 福山, 敦彦× 碇, 哲雄× 多田, 真樹 |
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| 書誌情報 |
Japanese Journal of Applied Physics 巻 42, 号 5B, p. 3056-3059, 発行日 2003-05 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | The Japan Society of Applied Physics | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 応用物理学会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 00214922 | |||||
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Cite as
多田, 真樹, 福山, 敦彦, 碇, 哲雄, 多田, 真樹, 2003, Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements: 応用物理学会, 3056–3059 p.
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