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  1. 工学部
  1. 工学部
  2. 学術雑誌掲載論文 (工学部)

Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements

http://hdl.handle.net/10458/5191
http://hdl.handle.net/10458/5191
c3473f0f-b5c8-418f-8245-8413caf4b7dc
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2020-06-21
タイトル
タイトル Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ journal article
アクセス権
著者 多田, 真樹

× 多田, 真樹

WEKO 24932

ja 多田, 真樹

ja-Kana タダ, マサキ

en Tada, Masaki


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福山, 敦彦

× 福山, 敦彦

WEKO 7289
e-Rad_Researcher 10264368

ja 福山, 敦彦

ja-Kana フクヤマ, アツヒコ

en Fukuyama, Atsuhiko


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碇, 哲雄

× 碇, 哲雄

WEKO 7290
e-Rad_Researcher 70113214

ja 碇, 哲雄

ja-Kana イカリ, テツオ

en Ikari, Tetsuo


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多田, 真樹

× 多田, 真樹

WEKO 24932

ja 多田, 真樹

ja-Kana タダ, マサキ

en Tada, Masaki


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書誌情報 Japanese Journal of Applied Physics

巻 42, 号 5B, p. 3056-3059, 発行日 2003-05
出版者
出版者 The Japan Society of Applied Physics
出版者
出版者 応用物理学会
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 00214922
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Ver.1 2023-05-15 10:59:31.985282
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多田, 真樹, 福山, 敦彦, 碇, 哲雄, 多田, 真樹, 2003, Identification of hole traps in semi-insulating GaAs by means of the temperature-dependent piezoelectric photo-thermal measurements: 応用物理学会, 3056–3059 p.

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