WEKO3
アイテム
Effect of Ga on the structure of Ge–Se–Ga glasses from thermal analysis, Raman and XPS measurements
http://hdl.handle.net/10458/5102
http://hdl.handle.net/10458/5102c79017d0-1dd7-4051-9f6f-8e0a97c531fb
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | Effect of Ga on the structure of Ge–Se–Ga glasses from thermal analysis, Raman and XPS measurements | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||||||||
| 著者 |
前田, 幸治
× 前田, 幸治
WEKO
12047
× 境, 貴洋× 境, 健太郎
WEKO
12634
× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× Munzar, M.× Tonchev, D.× Kasap, S. O.× Lucovsky, G. |
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| 書誌情報 |
Journal of Materials Science : Materials in Electronics 巻 18, 号 1, p. 367-370, 発行日 2007-03 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||||||
| 出版者 | Springer US | |||||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 09574522 | |||||||||||||||||||||||
