WEKO3
-
RootNode
アイテム
There is a newer version of this record available.
塩基列の長さと重複率に基づくSVMを用いたエクソン領域抽出精度の向上法
http://hdl.handle.net/10458/453
http://hdl.handle.net/10458/45308717080-5d9e-4847-829d-675f7c35a1af
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00004439528.pdf (1.1 MB)
|
|
| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2007-06-28 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 塩基列の長さと重複率に基づくSVMを用いたエクソン領域抽出精度の向上法 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Accurate Identification of Exon-Intron Boundaries by SVM based on Three-tuple Encoding and Base-repetition Ratio | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Support Vector Machine, Genome, Exon-Intron, Encoding | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| その他（別言語等）のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | エンキレツ ノ ナガサ ト ジュウフクリツ ニ モトズク SVM オ モチイタ エクソン リョウイキ チュウシュツ セイド ノ コウジョウホウ | |||||
| 言語 | ja-Kana | |||||
| 著者 |
冨成, 裕輔
× 冨成, 裕輔× 山森, 一人× 吉原, 郁夫× 藤田, 祐二× Tominari, Yusuke× Fujita, Yuji |
|||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | ABSTRACT In this report, we evaluate the base-encoding methods to identify Exon-Intron boundaries by Sup- port Vector Machine. In conventional experiments, 2-bits for 4-bits binary encoding was employed to describe bases. We focuced on that only the euclidean distance is used in Support Vector Machine, then propose three-tuple encoding which has the same euclidean distance among four encoded bases with small dimensions. In addition, we also show a new method how to decide the shortest sequence of bases to identify boundaries. Experiments showed that our method could achieve good identification ratio. |
|||||
| 言語 | en | |||||
| 書誌情報 |
ja : 宮崎大学工学部紀要 en : Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki 巻 35, p. 303-308, 発行日 2006-08-30 |
|||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 宮崎大学工学部 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | Faculty of Engineering, University of Miyazaki | |||||
| 言語 | en | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 05404924 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA00732558 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
Share
Cite as
冨成, 裕輔, Yamamori, Kunihito, 吉原, 郁夫, 藤田, 祐二, Tominari, Yusuke, Fujita, Yuji, 2006, 塩基列の長さと重複率に基づくSVMを用いたエクソン領域抽出精度の向上法: 宮崎大学工学部, 303–308 p.
Loading...
