WEKO3
アイテム / 窒素イオン注入Si及びSi酸化膜端に生じる格子欠陥の観察と評価 / KJ00004439485
KJ00004439485
| ファイル | ライセンス |
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KJ00004439485.pdf (1.1 MB)
sha256
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||
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| ファイル名 | KJ00004439485.pdf | |||||
| 本文URL | https://miyazaki-u.repo.nii.ac.jp/record/2441/files/KJ00004439485.pdf | |||||
| ラベル | KJ00004439485.pdf | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 1.1 MB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/非表示 |
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