WEKO3
-
RootNode
アイテム
Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal
http://hdl.handle.net/10458/5201
http://hdl.handle.net/10458/520185914b83-0e70-45b4-abe7-38231ff53ec5
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-06-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| キーワード | Deep level photothermal spectroscopy, Deep level transient spectroscopy, Nickel, Photoionization, Piezoelectricity | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| 著者 |
佐藤, 庄一郎
× 佐藤, 庄一郎× 福山, 敦彦× 田中, 秀司× 碇, 哲雄× Sato, Syoichiro× Memon, Aftab A.× Tanaka, Shuji |
|||||
| 書誌情報 |
Review of Scientific Instruments 巻 74, 号 1, p. 340-342, 発行日 2003-01 |
|||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | American Institute of Physics | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 00346748 | |||||
