WEKO3
アイテム
Carrier recombination mechanism at SiO_2/Si interface studied by a photo-thermal and a surface photo-voltage spectroscopy
http://hdl.handle.net/10458/5413
http://hdl.handle.net/10458/5413a13585ab-c12b-474f-acfe-f93d96648cc7
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | Carrier recombination mechanism at SiO_2/Si interface studied by a photo-thermal and a surface photo-voltage spectroscopy | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||||||||
| 著者 |
境, 健太郎
× 境, 健太郎
WEKO
12634
× 末光, 眞希× 福山, 敦彦
WEKO
7289
× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× Saisho, T× Hayashi, H× Sato, S× 末光, 眞希 |
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| 書誌情報 |
Semiconductor Device Research Symposium, 2005 International p. 414-415, 発行日 2005-12 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||||||||
| 出版者 | IEEE | |||||||||||||||||||||||
