WEKO3
アイテム
Diffusion and Electrical Properties of Nickel in Silicon
http://hdl.handle.net/10458/5273
http://hdl.handle.net/10458/5273e298180d-aafa-469c-bf88-a5b89b30ef9d
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Diffusion and Electrical Properties of Nickel in Silicon | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| キーワード | Silicon, Nickel, Energy Levels, Solubility, In-Diffusion, Annealing, Precipitation, Intrinsic Point Defects, Sinks and Sources | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||
| 著者 |
田中, 秀司
× 田中, 秀司× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× 北川, 興× Tanaka, Shuji× 北川, 興 |
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| 書誌情報 |
Defect and Diffusion Forum 巻 183-185, p. 171-180, 発行日 2000 |
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| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | Trans Tech Publications | |||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 10120386 | |||||||||||