WEKO3
アイテム
Investigation of Ni Induced Deep Levels in N-Type Si by a Temperature Dependence of Piezoelectric Photothermal Signals
http://hdl.handle.net/10458/5220
http://hdl.handle.net/10458/5220cc5ce570-8385-44b5-8784-fb470a26cbe3
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | Investigation of Ni Induced Deep Levels in N-Type Si by a Temperature Dependence of Piezoelectric Photothermal Signals | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||||||||
| 著者 |
佐藤, 庄一郎
× 佐藤, 庄一郎× 伊藤, 敦史× 多田, 晋× 田中, 秀司× 福山, 敦彦
WEKO
7289
× 碇, 哲雄
WEKO
7290
× Sato, Shoichiro× Ito, Atsushi× 多田, 晋× Tanaka, Shuji |
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| 書誌情報 |
Japanese Journal of Applied Physics 巻 41, 号 5B, p. 3376-3378, 発行日 2002-05 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | The Japan Society of Applied Physics | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 応用物理学会 | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 00214922 | |||||||||||||||||
