WEKO3
アイテム
Carrier recombination velocities at the SiO_2/Si interface investigated by a photo-thermal reflection microscopy
http://hdl.handle.net/10458/5131
http://hdl.handle.net/10458/513134dd8dd1-3e4f-4bab-ae36-a7c5693d4612
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2020-06-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Carrier recombination velocities at the SiO_2/Si interface investigated by a photo-thermal reflection microscopy | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| キーワード | Photothermal reflection microscopy, SiO_2/Si interface, Carrier recombination velocity | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| 著者 |
碇, 哲雄
× 碇, 哲雄× 福山, 敦彦× 村田, 威史× 末光, 眞希× Murata, Takeshi× 末光, 眞希× Haddad, N× Reita, V× Roger, J. P.× Fournier, D |
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| 書誌情報 |
Materials Science and Engineering : B 巻 124-125, p. 345–348-345–348, 発行日 2005-12 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 09215107 | |||||
