WEKO3
アイテム
シーケンス図を利用した組込みシステム開発のためのテストケース生成手法の提案について
http://hdl.handle.net/10458/2554
http://hdl.handle.net/10458/25548b61d0c7-649c-45fa-8340-147a92e3bf92
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2010-02-24 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | シーケンス図を利用した組込みシステム開発のためのテストケース生成手法の提案について | |||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | Proposal of a Test Case Generation Method for Embedded Systems from Sequence Diagram | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| キーワード | test-case, sequence diagram, UML, MBT (Model-Based Testing) | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| キーワード | テストケース, シーケンス図 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||||||||
| 著者 |
井上, 陽
× 井上, 陽× 片山, 徹郎
WEKO
6484
× 井上, 陽 |
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| 書誌情報 |
ja : 電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス ja : 信学技報 巻 2007, 号 52, p. 85-90, 発行日 2007-12-10 |
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| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AN10013287 | |||||||||||
| 他の資源との関係 | ||||||||||||
| 関連名称 | http://ci.nii.ac.jp/naid/110006549288 | |||||||||||
